Обработка и анализ изображений поверхности анодных пленок с нанопористой структурой в программе IMAGEJ

Abstract

Описана методика цифровой обработки и анализа изображений пленок с нанопористой структурой по данным сканирующей электронной микроскопии с использованием программы ImageJ. На примере нанопористых пленок TiO2 показано, что результаты измерений позволяют рассчитать средний диаметр пор, а также стандартное отклонение. Графические зависимости для визуализации процесса анализа представлены в виде гистограммы численного распределения диаметра пор по размерам.