Обработка и анализ изображений поверхности анодных пленок с нанопористой структурой в программе IMAGEJ
| dc.contributor.author | Аль-Камали Марван Фархан Саиф Хассан | |
| dc.contributor.author | Врублевский, И. А. | |
| dc.date.accessioned | 2018-01-19T09:15:06Z | |
| dc.date.available | 2018-01-19T09:15:06Z | |
| dc.date.issued | 2016 | |
| dc.description | анодные пленки | ru_RU |
| dc.description | нанопористые пленки | ru_RU |
| dc.description | изображение поверхностей | ru_RU |
| dc.description | СЭМ изображения | ru_RU |
| dc.description | анализ изображений | ru_RU |
| dc.description | цифровая обработка | ru_RU |
| dc.description | imageJ программа | ru_RU |
| dc.description | программа imageJ | ru_RU |
| dc.description.abstract | Описана методика цифровой обработки и анализа изображений пленок с нанопористой структурой по данным сканирующей электронной микроскопии с использованием программы ImageJ. На примере нанопористых пленок TiO2 показано, что результаты измерений позволяют рассчитать средний диаметр пор, а также стандартное отклонение. Графические зависимости для визуализации процесса анализа представлены в виде гистограммы численного распределения диаметра пор по размерам. | ru_RU |
| dc.format.mimetype | application/pdf | ru_RU |
| dc.identifier.citation | Аль-Камали Марван Фархан Саиф Хассан. Обработка и анализ изображений поверхности анодных пленок с нанопористой структурой в программе IMAGEJ / Аль-Камали Марван Фархан Саиф Хассан, И. А. Врублевский // Моделирование в технике и экономике : сборник материалов докладов международной научно-практической конференции, Витебск, 23-24 марта 2016 г. / Витебский государственный технологический университет. - Витебск, 2016. - С. 30-32. - Библиогр.: с. 32 (5 назв.). | ru_RU |
| dc.identifier.isbn | 978-985-481-420-9 | |
| dc.identifier.uri | http://rep.vstu.by/handle/123456789/4142 | |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.publisher | Витебский государственный технологический университет | ru_RU |
| dc.source | Моделирование в технике и экономике : сборник материалов докладов международной научно-практической конференции, Витебск, 23-24 марта 2016 года | ru_RU |
| dc.subject | МОДЕЛИРОВАНИЕ И ОПТИМИЗАЦИЯ ТЕХНОЛОГИЧЕСКИХ ПРОЦЕССОВ В ПРОМЫШЛЕННОСТИ | ru_RU |
| dc.title | Обработка и анализ изображений поверхности анодных пленок с нанопористой структурой в программе IMAGEJ | ru_RU |
| dc.type | Article | ru_RU |