Библиографическое описание:
Аль-Камали Марван Фархан Саиф Хассан.
Обработка и анализ изображений поверхности анодных пленок с нанопористой структурой в программе IMAGEJ / Аль-Камали Марван Фархан Саиф Хассан, И. А. Врублевский
// Моделирование в технике и экономике : сборник материалов докладов международной научно-практической конференции, Витебск, 23-24 марта 2016 г. / Витебский государственный технологический университет. - Витебск, 2016. - С. 30-32. - Библиогр.: с. 32 (5 назв.).
Аннотация:
Описана методика цифровой обработки и анализа изображений пленок с нанопористой структурой по данным сканирующей электронной микроскопии с использованием программы ImageJ. На примере нанопористых пленок TiO2 показано, что результаты измерений позволяют рассчитать средний диаметр пор, а также стандартное отклонение. Графические зависимости для визуализации процесса анализа представлены в виде гистограммы численного распределения
диаметра пор по размерам.
