Приложение на С# для определения вероятностей излучательных переходов с отдельных компонент возбужденного уровня [4]F[3/2] иона ND[3+] по температурной зависимости времени жизни
Загрузка...
Дата
Название журнала
ISSN журнала
Название тома
Издатель
Витебский государственный технологический университет
DOI
Аннотация
Получено теоретическое описание экспериментальной зависимости времени жизни возбужденного мультиплета [4]F[3/2] иона Nd[3+] в кристалле LiYF[4], предложен метод определения вероятностей переходов с отдельных штарковских компонент возбужденного уровня. Разработано приложение на C# с удобным интерфейсом для компьютерного моделирования температурной зависимости времени жизни возбужденного уровня [4]F[3/2] иона Nd[3+] в кристалле LiYF[4].
Описание
вероятность переходов
возбужденные мультиплеты
время жизни
зависимость времени жизни
излучательные переходы
компьютерное моделирование
кристаллы
моделирование времени жизни
определение вероятности
приложения на C#
температурная зависимость
штарковские компоненты
возбужденные мультиплеты
время жизни
зависимость времени жизни
излучательные переходы
компьютерное моделирование
кристаллы
моделирование времени жизни
определение вероятности
приложения на C#
температурная зависимость
штарковские компоненты
Ключевые слова
Цитирование
Приложение на С# для определения вероятностей излучательных переходов с отдельных компонент возбужденного уровня [4]F[3/2] иона ND[3+] по температурной зависимости времени жизни = C# application for determining the probabilities of radiative transitions from individual components of the excited level [4]F[3/2] of the Nd[3+] ion based on the temperature dependence of the lifetime / А. А. Корниенко, В. С. Андреев, Ант. А. Корниенко [и др.] // Вестник Витебского государственного технологического университета. - 2025. - № 2 (52). - С. 92-99. - Библиогр.: с. 98 (11 назв.).