<link rel="stylesheet" href="styles.f3b1fba60ec7970c.css">
Сейчас идет активное тестирование репозитория. Сообщайте обо всех найденных ошибках через техническую поддержку.

Приложение на С# для определения вероятностей излучательных переходов с отдельных компонент возбужденного уровня [4]F[3/2] иона ND[3+] по температурной зависимости времени жизни

dc.contributor.authorКорниенко, А. А.
dc.contributor.authorАндреев, В. С.
dc.contributor.authorКорниенко, Ант. А.
dc.contributor.authorДунина, Е. Б.
dc.contributor.authorСоколова, А. С.
dc.contributor.authorВоронцова, К. О.
dc.date.accessioned2025-10-14T12:12:06Z
dc.date.available2025-10-14T12:12:06Z
dc.date.issued2025
dc.descriptionвероятность переходовru_RU
dc.descriptionвозбужденные мультиплеты
dc.descriptionвремя жизни
dc.descriptionзависимость времени жизни
dc.descriptionизлучательные переходы
dc.descriptionкомпьютерное моделирование
dc.descriptionкристаллы
dc.descriptionмоделирование времени жизни
dc.descriptionопределение вероятности
dc.descriptionприложения на C#
dc.descriptionтемпературная зависимость
dc.descriptionштарковские компоненты
dc.description.abstractПолучено теоретическое описание экспериментальной зависимости времени жизни возбужденного мультиплета [4]F[3/2] иона Nd[3+] в кристалле LiYF[4], предложен метод определения вероятностей переходов с отдельных штарковских компонент возбужденного уровня. Разработано приложение на C# с удобным интерфейсом для компьютерного моделирования температурной зависимости времени жизни возбужденного уровня [4]F[3/2] иона Nd[3+] в кристалле LiYF[4].ru_RU
dc.format.mimetypeapplication/pdfru_RU
dc.identifier.citationПриложение на С# для определения вероятностей излучательных переходов с отдельных компонент возбужденного уровня [4]F[3/2] иона ND[3+] по температурной зависимости времени жизни = C# application for determining the probabilities of radiative transitions from individual components of the excited level [4]F[3/2] of the Nd[3+] ion based on the temperature dependence of the lifetime / А. А. Корниенко, В. С. Андреев, Ант. А. Корниенко [и др.] // Вестник Витебского государственного технологического университета. - 2025. - № 2 (52). - С. 92-99. - Библиогр.: с. 98 (11 назв.).ru_RU
dc.identifier.urihttps://rep.vstu.by/handle/123456789/20851
dc.language.isoruru_RU
dc.publisherВитебский государственный технологический университетru_RU
dc.titleПриложение на С# для определения вероятностей излучательных переходов с отдельных компонент возбужденного уровня [4]F[3/2] иона ND[3+] по температурной зависимости времени жизниru_RU
dc.typeArticleru_RU

Файлы

Оригинальный пакет

Показано 1 - 1 из 1
Загрузка...
Изображение-миниатюра
Имя:
Vestnik_2 (52)_92-99.pdf
Размер:
233,3 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Описание:

Пакет лицензий

Показано 1 - 1 из 1
Загрузка...
Изображение-миниатюра
Имя:
license.txt
Размер:
1,71 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Описание:

Коллекции