Библиографическое описание:
Эллипсометрия тонких диэлектрических пленок / А. Н. Петлицкий [и др.]
// Материалы докладов 47 международной научно-технической конференции преподавателей и студентов / УО "ВГТУ". - Витебск, 2014. - С. 307-310. - Библиогр.: с. 310 (2 назв.).