Библиографическое описание:
Шялупаев, С. В. Измерение среднеквадратичной высоты микронеровностей по методу рассеянного света с возможностью определения статистического распределения неоднородностей поверхности / С. В. Шялупаев, В. И. Кондратенко, В. П. Морозов // 43 Международная конференция "Актуальные проблемы прочности" : материалы конференции, Витебск, 27 сентября - 1 октября 2004 г. : в 2 ч. / УО "ВГТУ". - Витебск, 2004. - Ч. 2. - С. 247-252.