Измерение среднеквадратичной высоты микронеровностей по методу рассеянного света с возможностью определения статистического распределения неоднородностей поверхности

Шялупаев, С. В.; Кондратенко, В. И.; Морозов, В. П.

Главная
→
Материалы конференций, семинаров
→
Международные конференции
→
Актуальные проблемы прочности : материалы 43 Международной конференции, Витебск, 27 сентября - 1 октября 2004 г. : в 2 ч. Ч. 2.
→
Просмотр элемента

ISSN 2522-1647

dc.contributor.author	Шялупаев, С. В.
dc.contributor.author	Кондратенко, В. И.
dc.contributor.author	Морозов, В. П.
dc.date.accessioned	2020-06-10T08:57:31Z
dc.date.available	2020-06-10T08:57:31Z
dc.date.issued	2004
dc.identifier.citation	Шялупаев, С. В. Измерение среднеквадратичной высоты микронеровностей по методу рассеянного света с возможностью определения статистического распределения неоднородностей поверхности / С. В. Шялупаев, В. И. Кондратенко, В. П. Морозов // 43 Международная конференция "Актуальные проблемы прочности" : материалы конференции, Витебск, 27 сентября - 1 октября 2004 г. : в 2 ч. / УО "ВГТУ". - Витебск, 2004. - Ч. 2. - С. 247-252.	ru-RU
dc.identifier.issn		ru-RU
dc.identifier.uri	http://rep.vstu.by/handle/123456789/12931
dc.description	определение распределения
dc.description	среднеквадратичная высота микронеровностей
dc.description	методы определения
dc.description	поверхности деталей
dc.description	статистическое распределение
dc.description	детали машин
dc.description	неоднородность поверхностей
dc.description	измерение среднеквадратичной высоты
dc.description	распределение неоднородностей
dc.description	метод рассеянного света
dc.description	микронеровности
dc.description.abstract
dc.format.mimetype	application/pdf	ru-RU
dc.language.iso	rus	ru-RU
dc.publisher	Витебский государственный технологический университет	ru-RU
dc.source	43 Международная конференция "Актуальные проблемы прочности" : материалы конференции, Витебск, 27 сентября - 1 октября 2004 г. : в 2 ч. / УО "ВГТУ"	ru-RU
dc.title	Измерение среднеквадратичной высоты микронеровностей по методу рассеянного света с возможностью определения статистического распределения неоднородностей поверхности	ru-RU
dc.type	Article	ru-RU