<link rel="stylesheet" href="styles.f3b1fba60ec7970c.css">
Сейчас идет активное тестирование репозитория. Сообщайте обо всех найденных ошибках через техническую поддержку.

Измерение среднеквадратичной высоты микронеровностей по методу рассеянного света с возможностью определения статистического распределения неоднородностей поверхности

Загрузка...
Изображение-миниатюра

Дата

Название журнала

ISSN журнала

Название тома

Издатель

Витебский государственный технологический университет

DOI

Аннотация

Описание

определение распределения
среднеквадратичная высота микронеровностей
методы определения
поверхности деталей
статистическое распределение
детали машин
неоднородность поверхностей
измерение среднеквадратичной высоты
распределение неоднородностей
метод рассеянного света
микронеровности

Ключевые слова

Цитирование

Шялупаев, С. В. Измерение среднеквадратичной высоты микронеровностей по методу рассеянного света с возможностью определения статистического распределения неоднородностей поверхности / С. В. Шялупаев, В. И. Кондратенко, В. П. Морозов // 43 Международная конференция "Актуальные проблемы прочности" : материалы конференции, Витебск, 27 сентября - 1 октября 2004 г. : в 2 ч. / УО "ВГТУ". - Витебск, 2004. - Ч. 2. - С. 247-252.

Подтверждение

Обзор

Дополнено

Упоминается в