Фотоэлектрическая релаксационная спектроскопия слоистых кристаллов TlInS[2]

Одринский, А. П.; Seyidov MirHasan Yu.; Mammadov, T. G.

Главная
→
Материалы конференций, семинаров
→
Международные конференции
→
Актуальные проблемы прочности : материалы 50 Международного симпозиума Витебск, 27 сентября - 1 октября 2010 г. Ч. 1.
→
Просмотр элемента

ISSN 2522-1647

Фотоэлектрическая релаксационная спектроскопия слоистых кристаллов TlInS[2]

Одринский, А. П.; Seyidov MirHasan Yu.; Mammadov, T. G.

URI: http://rep.vstu.by/handle/123456789/7772

Дата: 2010

Библиографическое описание:

Одринский, А. П. Фотоэлектрическая релаксационная спектроскопия слоистых кристаллов TlInS[2] / А. П. Одринский, MirHasan Yu. Seyidov T. G. Mammadov // 50 Международный симпозиум "Актуальные проблемы прочности" : материалы конференции, Витебск, 27 сентября - 1 октября 2010 г. / УО "ВГТУ". - Витебск, 2010. - Ч. 1. - С. 12-15.

Ключевые слова:

слоистые кристаллы; спектроскопия; релаксационная спектроскопия; слоистый кристалл TlInS[2]; спектроскопия кристаллов; фотоэлектрическая спектроскопия; фотоэлектрическая релаксационная спектроскопия; кристаллические структуры; фотоотклик; кристаллы; слоистые сегнетоэлектрики; термоактивация фоточувствительности; полупроводниковое материаловедение

Показать полную информацию