Обработка и анализ изображений поверхности анодных пленок с нанопористой структурой в программе IMAGEJ

ISSN 2522-1647

Показать сокращенную информацию

dc.contributor.author Аль-Камали Марван Фархан Саиф Хассан
dc.contributor.author Врублевский, И. А.
dc.date.accessioned 2018-01-19T09:15:06Z
dc.date.available 2018-01-19T09:15:06Z
dc.date.issued 2016
dc.identifier.citation Аль-Камали Марван Фархан Саиф Хассан. Обработка и анализ изображений поверхности анодных пленок с нанопористой структурой в программе IMAGEJ / Аль-Камали Марван Фархан Саиф Хассан, И. А. Врублевский // Моделирование в технике и экономике : сборник материалов докладов международной научно-практической конференции, Витебск, 23-24 марта 2016 г. / Витебский государственный технологический университет. - Витебск, 2016. - С. 30-32. - Библиогр.: с. 32 (5 назв.). ru_RU
dc.identifier.isbn 978-985-481-420-9
dc.identifier.uri http://rep.vstu.by/handle/123456789/4142
dc.description анодные пленки ru_RU
dc.description нанопористые пленки ru_RU
dc.description изображение поверхностей ru_RU
dc.description СЭМ изображения ru_RU
dc.description анализ изображений ru_RU
dc.description цифровая обработка ru_RU
dc.description imageJ программа ru_RU
dc.description программа imageJ ru_RU
dc.description.abstract Описана методика цифровой обработки и анализа изображений пленок с нанопористой структурой по данным сканирующей электронной микроскопии с использованием программы ImageJ. На примере нанопористых пленок TiO2 показано, что результаты измерений позволяют рассчитать средний диаметр пор, а также стандартное отклонение. Графические зависимости для визуализации процесса анализа представлены в виде гистограммы численного распределения диаметра пор по размерам. ru_RU
dc.format.mimetype application/pdf ru_RU
dc.language.iso ru ru_RU
dc.publisher Витебский государственный технологический университет ru_RU
dc.source Моделирование в технике и экономике : сборник материалов докладов международной научно-практической конференции, Витебск, 23-24 марта 2016 года ru_RU
dc.subject МОДЕЛИРОВАНИЕ И ОПТИМИЗАЦИЯ ТЕХНОЛОГИЧЕСКИХ ПРОЦЕССОВ В ПРОМЫШЛЕННОСТИ ru_RU
dc.title Обработка и анализ изображений поверхности анодных пленок с нанопористой структурой в программе IMAGEJ ru_RU
dc.type Article ru_RU


Файлы в этом документе

Данный элемент включен в следующие коллекции

Показать сокращенную информацию

Яндекс.Метрика