Методы исследования поверхности материалов на основе анализа пространственного распределения работы выхода электрона

Тявловский, А. К.; Жарин, А. Л.; Свистун, А. И.

Главная
→
Материалы конференций, семинаров
→
Международные конференции
→
Перспективные материалы и технологии : монография, 2017 г. : в 2 т. Т. 2.
→
Просмотр элемента

ISSN 2522-1647

Методы исследования поверхности материалов на основе анализа пространственного распределения работы выхода электрона

Тявловский, А. К.; Жарин, А. Л.; Свистун, А. И.

URI: http://rep.vstu.by/handle/123456789/14445

Дата: 2017

Библиографическое описание:

Тявловский, А. К. Методы исследования поверхности материалов на основе анализа пространственного распределения работы выхода электрона / А. К. Тявловский, А. Л. Жарин, А. И. Свистун // Перспективные материалы и технологии : монография : в 2 т. / УО "ВГТУ". - Витебск, 2017. - Т. 2. - С. 150-170.

Ключевые слова:

разработка свойств; распределение работы; методы исследованиий; метод сканирующего зонда Кельвина; метод зондовой электрометрии; пространственное распределение; свойства материалов; электроны; анализ распределения; перспективные материалы; исследования свойств; работа выхода электрона

Показать полную информацию