Исследование примесных фаз в неоднородных сегнетоэлектрических кристаллах TGS методом сканирующей емкостной силовой микроскопии

Гайнутдинов, Р. В.; Шут, В. Н.; Толстихина, А. Л.; Лашкова, А. К.; Мозжаров, С. Е.; Кашевич, И. Ф.; Белугина, Н. В.

ISSN 2522-1647

Исследование примесных фаз в неоднородных сегнетоэлектрических кристаллах TGS методом сканирующей емкостной силовой микроскопии

Гайнутдинов, Р. В.; Шут, В. Н.; Толстихина, А. Л.; Лашкова, А. К.; Мозжаров, С. Е.; Кашевич, И. Ф.; Белугина, Н. В.

URI: http://rep.vstu.by/handle/123456789/11309

Дата: 2019

Библиографическое описание:

Исследование примесных фаз в неоднородных сегнетоэлектрических кристаллах TGS методом сканирующей емкостной силовой микроскопии / Р. В. Гайнутдинов [и др.] // Международный симпозиум "Перспективные материалы и технологии" : материалы симпозиума, Брест, 27-31 мая 2019 г. / Национальная академия наук Беларуси, Министерство образования Республики Беларусь, Белорусский республиканский фонд фундаментальных исследова. - Витебск, 2019. - С. 576-578.

Ключевые слова:

примесные фазы; методы исследования; метод сканирующей емкостной силовой микроскопии; исследование примесных фаз; кристаллы TGS; сегнетоэлектрические кристаллы; неоднородные кристаллы

Показать полную информацию