<link rel="stylesheet" href="styles.f3b1fba60ec7970c.css">
Сейчас идет активное тестирование репозитория. Сообщайте обо всех найденных ошибках через техническую поддержку.

Оптоэлектронная методика определения субструктурных и ориентационных изменений, сопровождающих пластическую деформацию кристаллических материалов

Загрузка...
Изображение-миниатюра

Дата

Название журнала

ISSN журнала

Название тома

Издатель

Витебский государственный технологический университет

DOI

Аннотация

Описание

деформация материалов
пластическая деформация
определение изменений
кристаллические материалы
субструктурные изменения
изменения материалов
ориентационные изменения
методики определения изменений
оптоэлектронная методика

Ключевые слова

Цитирование

Оптоэлектронная методика определения субструктурных и ориентационных изменений, сопровождающих пластическую деформацию кристаллических материалов / Е. Е. Бадиян [и др.] // Перспективные материалы и технологии : материалы международного симпозиума, Витебск, 22-26 мая 2017 г. : в 2 ч. / УО "ВГТУ", ГНУ "Институт технической акустики НАН Беларуси". - Витебск, 2017. - Ч. 2. - С. 18-20.

Подтверждение

Обзор

Дополнено

Упоминается в