Исследование связи структуры аморфных пленок Pd[84,5]-Si[15,5], деформированных в жидком гелии с масс-спектрами выделения из них атомов гелия
Загрузка...
Дата
Название журнала
ISSN журнала
Название тома
Издатель
Витебский государственный технологический университет
DOI
Аннотация
Исследование связи структуры аморфных пленок Pd[84,5]-Si[15,5], деформированных в жидком гелии с масс-спектрами выделения из них атомов гелия / О. В. Клявин [и др.] // Физика процессов деформации и разрушения и прогнозирование механического поведения материалов : труды 36 Международного семинара "Актуальные проблемы прочности", 26-29 сентября 2000 г. : в 2 ч. / ВГТУ ; НИИ математики и механики СПбГУ. - Витебск, 2000. - Ч. 2. - С. 578-582.
Описание
исследование структуры
масс-спектры
жидкий гелий
5]
аморфные пленки Pd[84
деформация пленок
структура аморфных пленок
деформация в гелии
выделение атомов
атомы гелия
5]-Si[15
масс-спектры
жидкий гелий
5]
аморфные пленки Pd[84
деформация пленок
структура аморфных пленок
деформация в гелии
выделение атомов
атомы гелия
5]-Si[15