Исследование примесных фаз в неоднородных сегнетоэлектрических кристаллах TGS методом сканирующей емкостной силовой микроскопии
| dc.contributor.author | Гайнутдинов, Р. В. | |
| dc.contributor.author | Шут, В. Н. | |
| dc.contributor.author | Толстихина, А. Л. | |
| dc.contributor.author | Лашкова, А. К. | |
| dc.contributor.author | Мозжаров, С. Е. | |
| dc.contributor.author | Кашевич, И. Ф. | |
| dc.contributor.author | Белугина, Н. В. | |
| dc.date.accessioned | 2019-07-02T06:26:51Z | |
| dc.date.available | 2019-07-02T06:26:51Z | |
| dc.date.issued | 2019 | |
| dc.description | примесные фазы | |
| dc.description | методы исследования | |
| dc.description | метод сканирующей емкостной силовой микроскопии | |
| dc.description | исследование примесных фаз | |
| dc.description | кристаллы TGS | |
| dc.description | сегнетоэлектрические кристаллы | |
| dc.description | неоднородные кристаллы | |
| dc.description.abstract | ||
| dc.format.mimetype | application/pdf | ru-RU |
| dc.identifier.citation | Исследование примесных фаз в неоднородных сегнетоэлектрических кристаллах TGS методом сканирующей емкостной силовой микроскопии / Р. В. Гайнутдинов [и др.] // Международный симпозиум "Перспективные материалы и технологии" : материалы симпозиума, Брест, 27-31 мая 2019 г. / Национальная академия наук Беларуси, Министерство образования Республики Беларусь, Белорусский республиканский фонд фундаментальных исследова. - Витебск, 2019. - С. 576-578. | ru-RU |
| dc.identifier.issn | ru-RU | |
| dc.identifier.uri | http://rep.vstu.by/handle/123456789/11309 | |
| dc.language.iso | rus | ru-RU |
| dc.publisher | Витебский государственный технологический университет | ru-RU |
| dc.source | Международный симпозиум "Перспективные материалы и технологии" : материалы симпозиума, Брест, 27-31 мая 2019 г. / Национальная академия наук Беларуси, Министерство образования Республики Беларусь, Белорусский республиканский фонд фундаментальных исследова | ru-RU |
| dc.title | Исследование примесных фаз в неоднородных сегнетоэлектрических кристаллах TGS методом сканирующей емкостной силовой микроскопии | ru-RU |
| dc.type | Article | ru-RU |