Библиографическое описание:
Дыдо, А. С.
Патентная аналитика: современные формы и методы осуществления / А. С. Дыдо, И. С. Карпушенко
// Материалы докладов 58-й Международной научно-технической конференции преподавателей и студентов «Образование и наука в развитии технологий, экономики, общества» “Education and Science in the development of Technology, Economy and Society (ESTES-2025)”, посвященной 60-летию УО «ВГТУ» : в 2 т. / УО "ВГТУ". – Витебск, 2025. – Т. 1. - С. 370-372. – Библиогр.: с. 372 (2 назв.).