Приложение на С# для определения вероятностей излучательных переходов с отдельных компонент возбужденного уровня 4F 3/2 иона ND3+ по температурной зависимости времени жизни

Корниенко, А. А.; Андреев, В. С.; Корниенко, Ант. А.; Дунина, Е. Б.; Соколова, А. С.; Воронцова, К. О.

Главная
→
Периодические издания
→
Вестник Витебского государственного технологического университета
→
2025 выпуск 52
→
Просмотр элемента

ISSN 2522-1647

dc.contributor.author	Корниенко, А. А.
dc.contributor.author	Андреев, В. С.
dc.contributor.author	Корниенко, Ант. А.
dc.contributor.author	Дунина, Е. Б.
dc.contributor.author	Соколова, А. С.
dc.contributor.author	Воронцова, К. О.
dc.date.accessioned	2025-10-14T12:12:06Z
dc.date.available	2025-10-14T12:12:06Z
dc.date.issued	2025
dc.identifier.citation	Приложение на С# для определения вероятностей излучательных переходов с отдельных компонент возбужденного уровня 4F 3/2 иона ND3+ по температурной зависимости времени жизни = C# application for determining the probabilities of radiative transitions from individual components of the excited level 4F3/2 of the Nd3+ ion based on the temperature dependence of the lifetime / А. А. Корниенко, В. С. Андреев, Ант. А. Корниенко [и др.] // Вестник Витебского государственного технологического университета. - 2025. - № 2 (52). - С. 92-99. - Библиогр.: с. 98 (11 назв.).	ru_RU
dc.identifier.uri	https://rep.vstu.by/handle/123456789/20851
dc.description	вероятность переходов; возбужденные мультиплеты; время жизни; зависимость времени жизни; излучательные переходы; компьютерное моделирование; кристаллы; моделирование времени жизни; определение вероятности; приложения на C#; температурная зависимость; штарковские компоненты	ru_RU
dc.description.abstract	Получено теоретическое описание экспериментальной зависимости времени жизни возбужденного мультиплета 4F3/2 иона Nd3+ в кристалле LiYF4, предложен метод определения вероятностей переходов с отдельных штарковских компонент возбужденного уровня. Разработано приложение на C# с удобным интерфейсом для компьютерного моделирования температурной зависимости времени жизни возбужденного уровня 4F3/2 иона Nd3+ в кристалле LiYF4.	ru_RU
dc.format.mimetype	application/pdf	ru_RU
dc.language.iso	ru	ru_RU
dc.publisher	Витебский государственный технологический университет	ru_RU
dc.title	Приложение на С# для определения вероятностей излучательных переходов с отдельных компонент возбужденного уровня 4F 3/2 иона ND3+ по температурной зависимости времени жизни	ru_RU
dc.type	Article	ru_RU