Неразрушающее выявление малоразмерных дефектов поверхности материалов с использованием бесконтактного сканирующего зонда Кельвина

ISSN 2522-1647

Показать сокращенную информацию

dc.contributor.author Тявловский, А. К.
dc.contributor.author Жарин, А. Л.
dc.contributor.author Гусев, О. К.
dc.contributor.author Свистун, А. И.
dc.contributor.author Пантелеев, К. В.
dc.contributor.author Воробей, Р. И.
dc.contributor.author Тявловский, К. Л.
dc.date.accessioned 2019-07-02T06:40:46Z
dc.date.available 2019-07-02T06:40:46Z
dc.date.issued 2019
dc.identifier.citation Неразрушающее выявление малоразмерных дефектов поверхности материалов с использованием бесконтактного сканирующего зонда Кельвина / А. К. Тявловский [и др.] // Международный симпозиум "Перспективные материалы и технологии" : материалы симпозиума, Брест, 27-31 мая 2019 г. / Национальная академия наук Беларуси, Министерство образования Республики Беларусь, Белорусский республиканский фонд фундаментальных исследова. - Витебск, 2019. - С. 642-644. ru-RU
dc.identifier.issn ru-RU
dc.identifier.uri http://rep.vstu.by/handle/123456789/11334
dc.description дефекты поверхности
dc.description зонд Кельвина
dc.description малоразмерные дефекты
dc.description дефекты материалов
dc.description выявление дефектов
dc.description неразрушающее выявление
dc.description бесконтактного сканирующего зонды
dc.description материалы
dc.description.abstract
dc.format.mimetype application/pdf ru-RU
dc.language.iso rus ru-RU
dc.publisher Витебский государственный технологический университет ru-RU
dc.source Международный симпозиум "Перспективные материалы и технологии" : материалы симпозиума, Брест, 27-31 мая 2019 г. / Национальная академия наук Беларуси, Министерство образования Республики Беларусь, Белорусский республиканский фонд фундаментальных исследова ru-RU
dc.title Неразрушающее выявление малоразмерных дефектов поверхности материалов с использованием бесконтактного сканирующего зонда Кельвина ru-RU
dc.type Article ru-RU


Файлы в этом документе

Данный элемент включен в следующие коллекции

Показать сокращенную информацию

Яндекс.Метрика