Оптоэлектронная методика определения субструктурных и ориентационных изменений, сопровождающих пластическую деформацию кристаллических материалов

ISSN 2522-1647

Показать сокращенную информацию

dc.contributor.author Бадиян, Е. Е.
dc.contributor.author Шуринов, Р. В.
dc.contributor.author Тонкопряд, А. Г.
dc.contributor.author Шеховцов, О. В.
dc.date.accessioned 2019-02-20T13:26:22Z
dc.date.available 2019-02-20T13:26:22Z
dc.date.issued 2017
dc.identifier.citation Оптоэлектронная методика определения субструктурных и ориентационных изменений, сопровождающих пластическую деформацию кристаллических материалов / Е. Е. Бадиян [и др.] // Перспективные материалы и технологии : материалы международного симпозиума, Витебск, 22-26 мая 2017 г. : в 2 ч. / УО "ВГТУ", ГНУ "Институт технической акустики НАН Беларуси". - Витебск, 2017. - Ч. 2. - С. 18-20. ru-RU
dc.identifier.issn ru-RU
dc.identifier.uri http://rep.vstu.by/handle/123456789/10258
dc.description деформация материалов
dc.description пластическая деформация
dc.description определение изменений
dc.description кристаллические материалы
dc.description субструктурные изменения
dc.description изменения материалов
dc.description ориентационные изменения
dc.description методики определения изменений
dc.description оптоэлектронная методика
dc.description.abstract
dc.format.mimetype application/pdf ru-RU
dc.language.iso rus ru-RU
dc.publisher Витебский государственный технологический университет ru-RU
dc.source Перспективные материалы и технологии : материалы международного симпозиума, Витебск, 22-26 мая 2017 г. : в 2 ч. / УО "ВГТУ", ГНУ "Институт технической акустики НАН Беларуси" ru-RU
dc.title Оптоэлектронная методика определения субструктурных и ориентационных изменений, сопровождающих пластическую деформацию кристаллических материалов ru-RU
dc.type Article ru-RU


Файлы в этом документе

Данный элемент включен в следующие коллекции

Показать сокращенную информацию

Яндекс.Метрика